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晶振測(cè)試儀介紹

日期：2025-08-15 02:38

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摘要：

晶振測(cè)試儀介紹
晶振測(cè)試儀應(yīng)用

晶振測(cè)試儀通過(guò)使用微處理技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了智能化測(cè)量。本機(jī)*大的特點(diǎn)是采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)，測(cè)量精度高，靈敏度高，速度快，閘門(mén)時(shí)間可選;可進(jìn)行PPM測(cè)量、偏差測(cè)量、上下限測(cè)量等。中心頻率F0、偏差頻率Fr、上下頻率Fu、下限頻率FL可任意設(shè)定并能進(jìn)行存儲(chǔ)，設(shè)有計(jì)數(shù)功能，在分選好壞時(shí)特別好用，可自動(dòng)計(jì)算出良品的數(shù)量。特別適合手機(jī)維修行業(yè)、晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的科研及生產(chǎn)之用。

主要功能特征

1.晶振測(cè)試儀采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù),測(cè)量精度高,測(cè)量范圍廣,真正實(shí)現(xiàn)精度測(cè)量,測(cè)量速度快,靈敏度高.

2.采用單片機(jī)技術(shù)進(jìn)行周期頻率測(cè)量和智能化管理,使儀器具有很高的可靠性和優(yōu)良的性價(jià)比.

3.整機(jī)有用大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì),CPLD器件的運(yùn)用,使儀器元器件大為減少,可靠性有了大幅度的提高,平均無(wú)故障工作時(shí)間>10000h.

4.整機(jī)外觀美觀大方、體積小、重量輕，使用方便。

5.本機(jī)有計(jì)數(shù)功能，可以自動(dòng)計(jì)算出良品的數(shù)量。

尊敬的客戶：

　　本公司有標(biāo)準(zhǔn)能效測(cè)試鍋、標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指針?shù)N、IP防護(hù)等級(jí)試具產(chǎn)品，您可以通過(guò)網(wǎng)頁(yè)撥打本公司的服務(wù)專線了解更多產(chǎn)品的詳細(xì)信息，至善至美的服務(wù)是我們的追求，歡迎新老客戶放心選購(gòu)自己心儀產(chǎn)品，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)！

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